Benjamin Fragneaud

Benjamin Fragneaud

Bolsista de Produtividade em Pesquisa do CNPq - Nível 2
Universidade Federal de Juiz de Fora
benjamin
Benjamin Fragneaud é atualmente Prof. adjunto nivel I na Univesidade Federal de Juiz de Fora. Possui graduação em Física aplicada pela Université de Bretagne Occidentale (Brest - França) em 2000 - com estudos anteriores em Medidas Físicas pelo Institut Universitaire des Technologies, Mesures Physiques (Bordeaux - França). Possui mestrado em Ciências dos Materiais pela Polytech' Grenoble (Grenoble - França, 2002) e doutorado em co-tutela em Nanociências e Nanomateriais pelo Instituto Potosino Investigación Científica y Tecnológica (San Luis Potosí - México) e Université Lyon I (Lyon - França), concluído em 2006. Durante seu mestrado, trabalhou com síntese de materiais anti-oxidantes para compósitos auto-cicatrizantes (SiC/SiC). Em seu doutorado, realizou síntese de materias, tais como polímeros, compósitos, cerâmicas e nanomateriais de carbono. Estudou propriedades mecânicas e elétricas de compósitos poliméricos com nanotubos de carbono. Durante esse período, obteve larga experiência em Análise Termomecânica Dinâmica (DTMA), Calorimetria Diferencial de Varredura (DSC), microscopias eletrônicas de varredura e de ransmissão, espectroscopias de impedância elétrica, de infravermelho e de absorção. O mestrado e o doutorado envolveram as empresas SNECMA (construção de motores de aviões - França) e Desc (Produtos poliméricos - México), respectivamente. Durante o período de Pos-Doc na Columbia University (New York - EUA), trabalhou com propriedades opto-mecânicas de materiais compostos, com nanoindentação e com o desenvolvimento de uma máquina não comercial de análises nanomecânicas de filmes de espessuras inferiores a 100nm, que geraram uma patente. Trabalhou, como pesquisador visitante, por um ano no Centro de Microscopia da Universidade Federal de Minas Gerais com nanoindentação e Microscopia de Força Atômica (AFM), em projeto de Petrobrás. Atualmente, trabalha com espectroscopia Raman acoplada à microscopia de força atômica na caracterização e manipulação em pequena escala de nanomaterias de carbono, especialmente grafeno.Trabalho como Pesquisador Prometro no Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - Centro de Metrologia Científica e Industrial de (2011-2013). Possui experiência em atomatização e desenvolvimento de processos de medida.

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Universidade Federal de Juiz de Fora, Instituto de Ciências Exatas, Departamento de Física.
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